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光學儀器、光學材料、實驗儀器、手動工具、焊接工具、焊接材料、儀器儀表、靜電設備、靜電輔料、工業器材、氣動元件、電工電氣、測量工具、計量設備、氣動工具、電動工具、化工設備、化工輔料、點膠設備、小型設備、儲存設備、物流設備、工業安防、**防護、包裝材料、切削工具、切削材料、辦公設備、辦公文具、工裝夾具、測試治具、機械加工。設備等。

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產品名稱：OTSUKA大塚電子粒徑和Zeta測量內藤代理
產品型號：帶自動進樣器 AS50 的多樣品納米粒徑測量系統 nanoSAQLA
產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：

這是使用“動態光散射法”（DLS 法）的粒徑測量系統（粒徑 0.6 nm - 10 μm）。包括各種功能以進一步改進質量控制。它測量速度快（約 1 分鐘），重量輕且緊湊，這是實驗室使用必不可少的，而且這種新的光學系統能夠一次測量多個樣品，濃度范圍從稀釋到濃縮。此外，它是一種不浸入液體的新產品（非浸入型），因此污染不是問題，在不使用自動進樣器的情況下*多可以連續測量 5 個樣品。銷售中心-重慶內藤naitokikai

詳情介紹：

特征

■nanoSAQLA的特點

簡單快速的一次性設置，*多可設置 5 個不同條件下的樣品。
測量稀釋和高度濃縮的樣品
在大約 1 分鐘內進行測量 +
包括溫度梯度功能
無污染連續測量

■AS50的特點

*多連續 50 個樣品
添加樣本作為度量
輕松放置樣品
一次更換多達 50 個樣品
用于有機溶劑（玻璃一次性池）
樣本量 0.4 毫升 ~

測量范圍（理論值）

粒徑范圍 0.6 nm-10 μm
適用濃度范圍 0.00001-40 ％
溫度范圍0-90℃

規格

模型	多樣品納米粒徑測量系統
原則	動態光散射法
光源	高功率半導體激光器^*1
探測器	高度敏感的APD
連續測量	*多 5 個樣品
測量范圍	0.6 納米 - 10 微米
對應濃度	0.00001 - 40 % ^*2
溫度	0 - 90℃ （帶梯度功能）^*3
尺寸	240(W) X 480(D) X 375(H) 毫米
重量	18公斤
軟件	平均粒徑分析（累積量法）
	粒度分布分析（Marquardt算法/NNLS/Contin算法/Unimodal算法）
	粒度分布重疊
	反相關函數/殘差圖
	粒度圖
	顯示粒徑范圍（0.1 - 10 ⁶ nm）
	計算分子量的函數
選項	微量池（樣品 20 μL 及以上），帶通濾波器

*1 根據 JIS C 6802激光**標準，本產品屬于 1 類產品
*2 PS Latex Particle:0.00001 - 10 % Taurocholic acid：-40 %
*3 在 batch cell holder 中使用玻璃比色皿
時在連續測量 cell holder 或一次性電池 15 - 40℃

模型	自動進樣器 AS50
粒徑范圍	3納米～10微米
濃度范圍	0.001～40%
溫度范圍	15～40℃
連續測量	*多 50 個樣品
樣品量	0.4納米～0.6毫升
尺寸	240(W) X 480(D) X 275(H) mm (nanoSAQLA+AS50:480(W) X 480(D) X 375(H) mm)
重量	12公斤（納米SAQLA+AS50：30公斤）